SJ 50033∕163-2003 半导体分立器件 3DK457型功率开关晶体管详细规范
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ID： |
87FEB14E422E481EB6D790FBD7B8E8BF |
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文件大小(MB)： |
0.55 |
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12 |
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日期： |
2024-7-27 |
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中华人民共和国电子行业军用标准,FL 5961 SJ 50033/163—2003,半导体分立器件,3DK457型功率开关晶体管,详细规范,Semiconductor discrete device,Detail specification of type 3DK457,for power switching transistors,2003-12-15 发布2004-03-01 实施,中华人民共和国信息产业部批准,SJ 50033/163—2003,刖 5,本规范是GJB 33A—97《半导体分立器件总规范》的相关详细规范,本规范附录A是规范性附录,本规范由信息产业部电子第四研究所归口,本规范起草单位:国营第八七三厂,本规范主要起草人:邹盛琳、黎建华,SJ 50033. 163—2003,半导体分立器件,3DK457型功率开关晶体管详细规范,范围,本规范规定了 3DK457型功率开关晶体管（以下简称器件）的详细要求.,2弓I用文件,卜加文件中的有关条款通过引用而成为本规范的条款。凡注日期或版次的引用文件,箕后的任何修,改单（不包括勘误的内容）或修订版本不适用于本规范,但提倡使用本规范的各方探讨使用其最新版本,的可能性,凡不注日期或版次的引用文件,其最新版本适用「本规范,GB T 4587-94干导体分立器件和集成电路 第ア部分:双极型晶体包,GJB 12300—90功率晶体营安全工作区测试方法,GJB 33A-97 、屋导体分立器件总规范,GJB 128A—9'ソ丒导体分立器件试验方法,3要求,3. I总则,RDK457型功率开关品体管应符合本规范和GJB 33A-97皿定的所有要求。本规范的要求与忌规范,彳;-我出.应以本规范为准,3.2 设计、结构和外形尺寸,3. 2 1 槪述 :’“一;:一 \ じI：' ',器门的设计和结构应按G汨3孤らT和本规范的规定」“产、宀,3.2.2弓I出端材料和镀涂层 " 1,引山端两根引线材料为可伐,す出端表面为锡或锲, 」 「,3.2.3器件结构,采用れ延平面消内,管芯与底库之间采用高温熔焊键合,3. 2 4外形尺寸,外开“三寸应埼合本极范的规定（见图1）J .,SJ 50033/163—2003,尺寸符号,数值,最小标称最大,A 6.00,叫1.52,叫0.67 0.80 0.93,①D 11.00,d 2.17 2.33,L 9.75 10.00 10.25,レ1.37 1.50 1.63,力P 3.05 3.20 3.35,q 18.85 19.15,凡7.32 7.50 7.68,& 2.87 3.00 3.13,S 10.58 10.80 11.02,5 25.00,心15.00,F 1.00 1.40,引出端捕刊:1ー星极 2ー发射极营克一集电极,图1外形尺寸,3.3 最大额定值和主要电特性,3. 3.1最大额定值,最大额定值见表し,表1最大额定值,ム=25℃,W,「CBO,V V,r，EBO,V,小,A,储ゝ1,A ℃,アロP,ac,しF,15 200 200 10 3 0.5 175 -55-125 _-55-175 _,a当％>25セ时,按0.1 W/C的速率线性地降额,3.3.2主要电特性,主耍电特性（￡=25C）见表2,表2主要电特性,方FE「^CEsatl r BEwtl 『on G 1 k h 凡th炉匸/CBOI,レ& = 3V,/c= 1 a,/c = 1 A,7B=O.O33A,V,k=lA 出=01 A,7B： = -0.1 A,rcc = 25 V,師,rCE=io v,左= 0.5 A,f= 10 MHz,MHz,rCE=20v,4 = 0.5 A,l= 1 s,K/W,二 1 CBO,mA,最小值最大值最大值最大值最小值最大值最大值,30 120 0.6 1.2 0.9 1.8 0.8 35 10 0.2,分档:黄:30.75、绿:70-120,色点位置在管帽顶端.,2,SJ 50033/163—2003,3.4电测试要求,电测试应符合GB/T45S7-94及本规范的规定,3. 5 志,标志应符合GJB33A—97及本规范的规定。省略GJB 33A—9ア中3フ1的c、d、g、h、i项,4质量保证规定,4. !抽样和检睑,抽样和检验应符合GJB 33A—97及本规范的规定,4.2鉴定检验,4. 2.1概述,鉴定检验应按GJB33A—9ア及本规范的规定.,4. 2. 2 E组检验（仅供鉴定）,E组检验应按GJB 33A—97及本规范表フ的规定,4. 3筛选し仅对JT和JCT级）,筛选应按GJB 33A—97中表2和本规范表3的规定,其测试应按本姙范を4的规定进行.超过本,规范我4极限值的器件应予剔除,表3筛选要求,沛达项目,试验方法号,GJB 12SA—97,条 件,内部ざ检（封帽前） 2072 仅对JCT级,:爲色与命1032 rA=175'C - f = 96h ________ _,3W受茴ラト,、キズ一空’ロ,ベば],1051,GBT4587—94,1 IV, 11,试验条件G,内数:20;弋,rCE = 20 V 7E = 0.5 A,尸Is 協地yW10K/W,4恒定シ速戋1 2006 Y!カ向98 000 ms二,仅，持1 mmヨ"3し】':ざH、,?粒子应撞舞击膜;明2052 试抬条件A,[,S编序列号,10高温反偏1039 试验条件 A rA=150℃ VCB = O.S VCBC 148 1】,11 PDA中间电参数测试按本规范表4的A2分组规定测试 ム⑴、如」，并记录数据,1……
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